تنفيذ التداخل المرجعي لNanodetection

263 مشاهدة

16:11 دقيقة

أبريل 26, 2014

10.3791/51133-v

أبريل 26, 2014

263 مشاهدة

Serge Vincent^*¹ , Wenyan Yu^*¹ , Tao Lu¹

¹Department of Electrical and Computer Engineering, University of Victoria

^* These authors contributed equally

ويستخدم تقنية تداخل المرجعية، والتي صممت لإزالة الضوضاء غير المرغوب فيها غضب ليزر لnanodetection، لبحث عاملا microcavity جودة فائقة. وتقدم الإرشادات للتجميع، والإعداد، والحصول على البيانات، إلى جانب عملية القياس لتحديد عامل الجودة تجويف.